Dualscope MP*解決的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 |
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Dualscope MP*解決
1 常見故障及處理方法.
1.儀器不開機
①請檢查確認電池是否有電,或更換新的電池。
②請檢查電池是否接觸良好,且電極片沒有氧化或生銹等(如生銹可用工具刮掉氧化層).
③請檢查按鍵是否按壓到位,且按鍵正常有彈性。
④其它主機線路故障,咨詢公司售后服務或返廠檢修.
2.儀器測量不準
①請先行系統校準儀器,標定,使之符合誤差范圍。誤差遵循≦3%(厚度值),如需測試更加精準請在被測工件的光滑裸基上(未涂裝的基體上)進行系統校準。
②請檢查探頭前端是否磨損,是否變形,有附著物質等,探頭外護套是否不在水平等,變形可適當用砂紙打磨修正,處理干凈.
③被測件基材表面粗糙度影響,引起系統誤差和偶然誤差,測量時在不同位置增加測量次數,克服偶然誤差。或用砂紙打磨基材重新校對儀器零點。
④測量手法以及探頭的放置,測試的時候需保持探頭與試樣垂直
⑤被測件曲度,在該探頭所適應的曲率半徑下,重新校準。尤其管道凸面,注意探頭V型卡槽穩定放置。
3.儀器無法測量
①檢查探頭是否連接良好,插到位.
②檢查探頭線是否有斷的地方,重點檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開查看)
③探頭頻繁大量使用,傳感器老化或損壞,燙傷等
④其它主機線路元件故障
4.測量無數據變化
①探頭是否連接良好探頭是否損壞等
2 故障查找
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er1 | 內部錯誤。 | 進行歸零步驟。 如錯誤重復出現,聯絡Fischer維修部。 |
Er4 | 內存測量數據儲存滿。 | 刪除內存測量數據。 |
Er5 | 無法確定底材值。
| 用合適的標準片校正。 校正標準片至少要有實際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時)。
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信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er6
| 超出測量范圍,不能顯示讀數。 原因: 涂鍍層太厚。 原因: 不正確測量。 原因: 歸零或校正方法有誤。 | 涂鍍層厚度在儀器測量范圍內。 正確測量 (例如: 在測量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測量后不要太快提起儀器)。 |
Er7 | 歸零或校正時,非正常值被認可了。 - 不正確測量標準片。
- 要求測量底材時卻測量了標準片。 - 測量有折痕的標準片。 - 測量時,儀器沒有平放在工件或標準片上。 | 刪除內存數據,重新測量。 重新正確歸零或校正 (例如:在測量前或后,不要把儀器放在工件上徘徊;在測量后不要太快提起儀器)。
在同一工件上測量多次取其平均值歸零。 更換標準片。 正確測量,將儀器平放在工件或標準片上。 |
Er12 | 校正時測量標準片順序錯誤。 | 按正確的順序重新校正。 |
Er13 | 主校準時,標準片的間隔不在允許范圍內。
使用了錯誤的標準片。
誤操作,在標準片上而不是在底材上歸零。 | 通知客戶服務部門。
使用正確的標準片。
在底材上歸零。 |
Er14 | 儀器內部錯誤: 無法計算主校準參數。原始主校準參數被保留。 | 重做主校正。 |
Er15 | 無法儲存主校準參數。 | 客戶服務部門。 |
Er17 | 讀數不夠, 因此無法結束一個組 。 | 再測幾個數據,直到*組可以結束,然后產生一個新的統計值。 |
Er22 | 儀器內部錯誤: 錯誤訪問內存或EEPROM。
| 客戶服務部門。
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Er28 | 儀器內部錯誤: 無法計算測量數據。 | 客戶服務部門。 |
Dualscope MP0
技術規格:
量 程:0~2000μm。
精 度:1μm(0~50μm);2%(50μm~1000μm);3%(1000μm~2000μm)。
重復精度: ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm)。
zui小測量曲率直徑:在精度范圍內,鐵基φ35mm,非鐵基φ50mm;
(在允許誤差<10%時,鐵基為φ10mm,非鐵基為φ2mm)。
zui小測量面積直徑:φ4mm(在允許誤差<10%時,為φ2mm)。
zui小基體厚度:鐵基0.2mm(誤差<10%時);非鐵基0.09mm(誤差<10%時)。
重 量:60g(不含電池)。
外形尺寸:64mm×30m×85mm。
電 源:兩節5號電池。
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