Couloscope CMS2 STEP測(cè)厚儀電解測(cè)量原理的詳細(xì)資料：

Couloscope CMS2 STEP測(cè)厚儀電解測(cè)量原理

Couloscope CMS2 STEP測(cè)厚儀測(cè)量版本：

4種不同類型的測(cè)量臺(tái)適合于測(cè)量各種種類的被測(cè)物體。

測(cè)量臺(tái)V18有1個(gè)新的測(cè)量槽設(shè)計(jì)。由于在每次測(cè)量后有一個(gè)泵會(huì)自動(dòng)地排出電解液至儲(chǔ)液箱內(nèi)，也就不再需要手動(dòng)清空測(cè)量槽了，一次注滿測(cè)量槽就可以多次測(cè)量。

測(cè)量臺(tái)V24允許靈活定位小工件。

測(cè)量臺(tái)V26主要為簡(jiǎn)單和平面形狀的物體而設(shè)計(jì)。

測(cè)量臺(tái)V27主要為在線材上測(cè)量而設(shè)計(jì)。

Couloscope CMS2 STEP測(cè)厚儀特性：

吸引人的設(shè)計(jì)，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。

操作簡(jiǎn)單，菜單指引的操作提示。

電解區(qū)域直徑從0.6 mm （24 mils） 至3.2 mm （128 mils）。

大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測(cè)量線材。

COULOSCOPE CMS STEP 測(cè)量原理：

測(cè)量原理 這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。 
 
  測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度 
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度： 
d:   
鍍層厚度 [µm] 
eÄ: 
電化學(xué)當(dāng)量 [g/As] 
I:    
電解電流 [A] γ:    電解效率
 t:    電解時(shí)間 [s] A:   電解面積 [cm2] ρ:   電解鍍層材料密度 [g/cm3] 
 
 
測(cè)量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測(cè)量 面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來決定。對(duì)不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個(gè)泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電 解液*利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。 

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測(cè)量臺(tái)：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm

篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：

==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>篤摯LAB GAGES 全自動(dòng)零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng)；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測(cè)中心；
==>>海克斯康三坐標(biāo)、ROMER關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)；
==>>瑞士TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>德國(guó)斯派克SPECTRO直讀光譜儀、德國(guó)布魯克Bruker火花光譜儀；
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)EPK手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>英國(guó)施泰力Starrett光學(xué)投影儀；
==>>篤摯LAB全自動(dòng)顯微硬度測(cè)試系統(tǒng)、布洛維硬度機(jī)、布氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀；
==>>篤摯工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、金相制樣設(shè)備；
==>>美國(guó)雷泰Raynger紅外測(cè)溫儀；
==>>美國(guó)OGP多傳感影像測(cè)量?jī)x；