DualScope MPOR的詳細資料：

DualScope MPOR

    用戶可以根據測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機一體型，探頭與主機分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質材料要用超聲波測厚儀來測，測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

    對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關和標準中稱為覆層（coating）。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要一環(huán)，是產品達到優(yōu)等質量標準的*手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

DualScope MPOR

   采用根據DIN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應方法，被用來測量非導電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法。
DUALSCOPE MP0R USB 理想的適合于測量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。
非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
 

介紹

為快速且簡便測量而設計。這一款經濟型的儀器可以準確地和方便地在2個液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數：一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板。它*的符合人類工程學設計的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作，可以進行測量數據統(tǒng)計評估以及在10-20 m（33-66 feet）的距離范圍內將測量數據在線或離線的無線傳輸至計算機的內置無線電發(fā)射器。