X-RAY XDL210熒光測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
X-RAY XDL210熒光測厚儀
X-RAY XDL210熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
通用規格
設計用途
能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍
從元素氯(17) 到 鈾(92)配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多可同時測定 24 種元素
設計理念
臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向
由上往下
X 射線源
X 射線管
帶鈹窗口的鎢管
高壓三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準直器）
Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸
取決于測量距離及使用的準直器大小，
實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
小的測量點大小約 Ø 0.2mm
X 射線探測
X 射線接收器
測量距離
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保護的 DCM 測量距離補償法
樣品定位
視頻系統
高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
手動聚焦，對被測位置進行監控
十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）
可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品
放大倍數
40x – 160x
電氣參數
電源要求
220 V ，50 Hz
功率
大 120 W （不包括計算機）
保護等級
IP40
尺寸規格
外部尺寸
寬×深×高[mm]：570×760×650
內部測量室尺寸
寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）
重量
94 kg
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